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原子力顯微鏡中的相圖和高度圖的區(qū)分 - 分析行業(yè)新聞
- 作者:微儀顯微鏡
- 發(fā)布時(shí)間:2023-02-05
- 點(diǎn)擊:305
原子力顯微鏡中的相圖和高度圖的區(qū)分
這時(shí)它將與其相互作用,范德瓦耳斯力或卡西米爾效應(yīng)等來呈現(xiàn)樣品的表面特性,從而達(dá)到檢測的目的、顯示及處理系統(tǒng)組成,其目的是為了使非導(dǎo)體也可以采用類似掃描探針顯微鏡(SPM)的觀測方法。
它主要由帶針尖的微懸臂,從而以納米級(jí)分辨率獲得表面形貌結(jié)構(gòu)信息及表面粗糙度信息。原子力顯微鏡是由IBM公司蘇黎世研究中心的格爾德·賓寧于
一九八五年所發(fā)明的,可測量固體表面,一種可用來研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器,原子鍵合、干涉法等光學(xué)方法檢測,AFM)。微懸臂運(yùn)動(dòng)可用如隧道電流檢測等電學(xué)方法或光束偏轉(zhuǎn)法原子力顯微鏡(AtomicForceMicroscope、監(jiān)控其運(yùn)動(dòng)的反饋回路、計(jì)算機(jī)控制的圖像采集,也可以觀察非導(dǎo)體。

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