原子力顯微鏡(教學(xué)型)WY-T-AFM

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◆性能特點：
小型化及可拆卸化設(shè)計，非常便于攜帶及教學(xué)。
激光檢測頭和樣品掃描臺集成一體，結(jié)構(gòu)非常穩(wěn)定，抗干擾性強。
精密探針定位裝置，激光光斑對準調(diào)節(jié)非常簡便。
單軸驅(qū)動樣品自動垂直接近探針，使針尖垂直于樣品掃描。
馬達控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式，保護探針及樣品。
自動光學(xué)定位，無需調(diào)焦，實時觀測與定位探針樣品掃描區(qū)域。
彈簧懸掛式防震方式，簡單實用，防震效果好。
集成掃描器非線性校正用戶編輯器，納米表征和測量精度優(yōu)于98%。

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◆性能特點：
小型化及可拆卸化設(shè)計，非常便于攜帶及教學(xué)。

激光檢測頭和樣品掃描臺集成一體，結(jié)構(gòu)非常穩(wěn)定，抗干擾性強。

精密探針定位裝置，激光光斑對準調(diào)節(jié)非常簡便。

單軸驅(qū)動樣品自動垂直接近探針，使針尖垂直于樣品掃描。

馬達控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式，保護探針及樣品。

自動光學(xué)定位，無需調(diào)焦，實時觀測與定位探針樣品掃描區(qū)域。

彈簧懸掛式防震方式，簡單實用，防震效果好。

集成掃描器非線性校正用戶編輯器，納米表征和測量精度優(yōu)于98%。

◆測量范圍及應(yīng)用：

測量范圍：二維、三維、Z值、相位、表面形貌、粗糙度、膜厚、形貌、相位。

應(yīng)用：納米材料、石墨烯、薄膜、鈍化膜、短切玻纖復(fù)材、分子篩、TiO2、CrPS4（15）、CrPS4（16）、中空纖維膜絲、粗糙度測試、四氧化三鐵、M13-PBA等。

◆ 應(yīng)用案例 Application Case

序號	名稱	技術(shù)參數(shù)
01	工作模式	輕敲模式、RMS-Z曲線
02	選配模式	接觸、摩擦力/側(cè)向力、振幅/相位、磁力/靜電力
03	選配力曲線	F-Z力曲線
04	XY掃描范圍	20×20um，可選50×50um，100×100um
05	Z掃描范圍	2.5um，可選5um，10um
06	掃描分辨率	橫向0.2nm，縱向0.05nm
07	樣品尺寸	Φ≤90mm，H≤20mm
08	樣品臺行程	15×15mm
09	光學(xué)觀察	4X光學(xué)物鏡/2.5um分辨率
10	掃描速率	0.6Hz~30Hz
11	掃描角度	0~360°
12	運行環(huán)境	Windows XP/7/8/10操作系統(tǒng)
13	通信接口	USB2.0/3.0
14	減震設(shè)計	彈簧懸掛方式